Chinese

产品分类

DF-410型全谱直读光谱仪

DF-410型全谱直读光谱仪

所属分类:直读光谱仪
产品详情

仪器介绍

• DF-410 采用适应 CCD 采集的 C-T光学系统,平场采样,全谱接收;

• 创新的 DF-IV 型全谱接收装置,实现 140-750nm 谱线分析;

• 可分析铁、铜、铝、锌、镍、锡、钛、镁等多种基体;

• 独立的光谱采集、处理模块,高性能的 ARM 处理器,实时操作系统,独立优化的数据处理单元,可极大缩短分析时间,提高仪器的分析精度;

• 最新的第三代温度控制系统,大大降低了能耗,温度控制范围在士0.2°C,提高了仪器的稳定性;

• 数字化光源 DF I -E 型的采用,扩大了元素的分析范围,满足微量、常量、超高含量元素分析;

• 定制化平场光栅,减少 CCD 使用数量,提高了分析数据精度及稳定性,仪器体积大大缩小,便于移动及安装;

• 革新的气路设计,增加了火花台积灰冲洗功能,主从气路可调,气路板密封功能。减少气消耗,减少火花台积灰,大大缩短开机氩气氛围的建立时间;

• 软件功能齐全、数据显示灵活,可设置碳当量等各种伪元素显示,并具有多种可选的报告打印格式。


技术参数

光学系统光学系统构造切尔-尼特纳架法
曲率半径400mm

IV 型全息像差校正原刻光栅

刻线 2400线/mm

波长范围140-750nm
像素分辨率

@200nm :10pm

自动恒温真空光学室30+0.2℃,真空范围:1.2-2.5Pa
光源系统光源类型火花脉冲数字光源
控制技术半导体 PWM 控制技术
放电电流10-400A
激发频率100-800Hz
放电时间10-10000μS
火花台最小氩气用量的冲氩式激发室
易于更换的火花台盖板
快速更换试样的火花台压架
控制和数据采集系统高分辨率 CCD 检测器
线阵CCD:Toshiba(日本东芝)
高速 16bit 采样精度
分辨率:3648 像元
温度、真空度实时监测
以太网高速通信
其他检测基体铁、铜、铝、镍、锌、锡、钛、镁等基体
通道配置可分析多基体,多通道
仪器尺寸970mm(长)*415mm(宽)*640mm(高)
环境要求温度 10℃ -35℃,湿度 20%-80%
重量净重 130Kg,毛重 180Kg
电源AC220V+10%/50Hz
功率分析时最大功率 800VA,待机状态 100VA
气体氩气,纯度>99.994%,压力>0.3MPa


在线留言

 点击显示验证码!